判断题 收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。

判断题 聚焦探头的焦距场，相当于其不聚焦来说，F一定大于近场长度。

判断题 用单斜探头检查厚焊缝时容易漏掉与探测面垂直的大而平的缺陷。