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华天FCDA员工晋升考试

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多项选择题

在测量显微镜下,测量推晶后框架上的(),对于每种尺寸的bump,在50~100X下选择3个锡残留尺寸(),在()的镜头下测量其残留痕迹的最小尺寸。

A.锡残留
B.最小的
C.200X及以上

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