填空题
测试设备发生故障的原因通常有：（）；（）；（）；（）；（）；（）；以及由于（）等。
元器件变值损坏；绝缘不良造成漏电和短路；焊点的虚焊和脱焊；电路断线；接插件接触不良；活动部件失常；外界原因造成的短路
填空题 目前，具有代表性的高性能新型微处理器的工作电压都已从（）V降到了（）V左右。
填空题 目前，所有的RISC（精简指令集计算技术）微处理器都采用了（）、（）和（）技术。
填空题 产品在调试前应（），方可交付调试。
