多项选择题
以下缺陷属于MPS killer defect项目的有（）。
A.虚焊 B.空洞 C.偏移 D.裂纹
单项选择题 芯片倾斜度检验工具为（）。
单项选择题 空洞检测标准为（）。
单项选择题 推晶力作为FCDA的首检监控项目，其标准为（）mg/μm2*bump。
