判断题
收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
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判断题 聚焦探头的焦距场,相当于其不聚焦来说,F一定大于近场长度。
判断题 用单斜探头检查厚焊缝时容易漏掉与探测面垂直的大而平的缺陷。
判断题 探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。