问答题
一般在沟道中带电粒子的能量损失是随机时的能量损失的多少。
且随入射离子种类、能量以及晶轴或晶面方向不同而异。
问答题 简述X射线荧光分析技术定性分析的物理基础。
问答题 简述沟道技术中退道程度的影响因素包括。
问答题 简述中子活化分析辐照源包括。
