单项选择题
芯片裂纹检验容量为每次()颗。
A.3 B.5 C.10 D.15
单项选择题 扁平直径检验容量为每次()颗。
单项选择题 推晶力的检测设备是()。
单项选择题 顶针印作为FCDA的killer defect,其标准是()。