判断题
典型芯片分选的方式有重力式芯片分选、平移式芯片分选和转塔式芯片分选。
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判断题 集成电路分选设备应用于分选环节,能够智能协同测试机,对芯片实现高效自动检测、精确定位从而完成参数测试,并对芯片分选以及剔除次品,分离归类良品。
判断题 测试机为保持正确性和一致性,测试系统需要进行定期校验,用以保证信号源和测量单元的精度。
多项选择题 芯片的外观检测主要对芯片()等进行检查。