多项选择题
集成电路的电学测试包括功能测试和参数测试，以下属于电学测试的为（）。
A.电流B.电场强度C.电压D.阻抗
单项选择题 以下电子产品的测试方法，属于破坏性测试的为（）。
单项选择题 要观察半导体器件上的针眼和小孔、钝化层裂缝等缺陷，应使用（）。
多项选择题 芯片发生失效的机理包括（）。
