判断题 探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。

判断题 频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。

判断题 表面波探头用于探测工件表面缺陷。