欢迎来到易学考试网
易学考试官网
登录
注册
首页
卫生资格(中初级)
医学高级职称
执业医师考试
执业药师考试
医院三基考试
全部科目
>
大学试题
>
工学
>
电子与通信技术
>
半导体集成电路
搜题找答案
问答题
简答题
如何计算killing ratio?
【参考答案】
藉由defect map与yield map的迭图与公式的运算,可算出某种缺陷对良率的杀伤力。
点击查看答案
上一题
目录
下一题
相关考题
问答题
yield loss analysis的功能为何?
问答题
何谓yield loss analysis?
问答题
简述Zone partition的做法?
关注
顶部
微信扫一扫,加关注免费搜题