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单项选择题
双晶片直探头适用于检查（）
A.饼类锻件
B.环类锻件
C.中厚板
D.以上都可以 -
单项选择题
下列哪种方法最适合探测厚板（）
A.接触法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接触法斜入射
D.水浸法斜入射 -
单项选择题
探测环类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）
A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.横孔
D.A和B
