欢迎来到易学考试网
易学考试官网
登录
注册
首页
卫生资格(中初级)
医学高级职称
执业医师考试
执业药师考试
医院三基考试
全部科目
>
大学试题
>
理学
>
物理学
>
材料物理性能
>
半导体材料
搜题找答案
问答题
计算题
T=300K,n型硅衬底杂质浓度为N
D
=10
16
cm
-3
,计算肖特基势垒高度Φ
B0
、半导体侧的接触电势差V
bi
、空间电荷区厚度W。
【参考答案】
点击查看答案
上一题
目录
下一题
相关考题
问答题
在NA=1015cm-3的p型硅衬底上,氧化层厚度为70nm,SiO2层等效电荷面密度为3×1011cm-2,计算MOSFET的阈值电压。
问答题
已知n沟道MOSFET的沟道长度L=10μm,沟道宽度W=400μm,栅氧化层厚度tax=150nm,阈值电压VT=3V,衬底杂质浓度NA=9×1014cm-3,求栅极电压等于7V时的漏源饱和电流。在此条件下,VDS等于几伏时漏端沟道开始夹断?计算中取μn=600cm2/(V·s)。
问答题
简述p沟道MOSFET的工作原理。
关注
顶部
微信扫一扫,加关注免费搜题