单项选择题
()不利于增加增强型NMOSFET的阈值电压。
A.Wm< WsB.向沟道区掺入BC.衬源间施加负偏压D.增加SiO2层的厚度
单项选择题 理想MIS(p型半导体衬底)结构中,高频C-V特性在强反型区与低频C-V特性不同的原因是高频条件下()。
单项选择题 降低基区掺杂浓度,()。
单项选择题 不能单纯依靠提高发射区掺杂浓度来提高发射效率的物理原因是()。