black

集成电路技术综合练习

登录

多项选择题

待测芯片的封装形式决定了()、()和包装的不同类型,而不同的性能指标又需要对应的测试方案进行配套完成测试。

A.测试
B.分选
C.焊接
D.打标

相关考题

多项选择题 下列关于待测区描述正确的是()

多项选择题 下列关于装料描述正确的是()

多项选择题 下列芯片封装描述正确的是()

All Rights Reserved 版权所有©易学考试网(yxkao.com)

备案号:湘ICP备2022003000号-3