多项选择题
用重力式设备进行芯片检测时,可以用于并行测试的芯片有()
A.DIPB.模块DIP24C.SOPD.模块DIP27
多项选择题 通常情况下,()封装形式的芯片可以采用重力式分选设备进行测试。
多项选择题 与测编一体的转塔式分选机设备相比,平移式分选机设备没有()环节的操作。
多项选择题 封装工艺中,在塑封体上进行激光打字时,打标的内容可以有()