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全部科目 > 通信电子计算机技能考试 > 芯片装架工

单项选择题

装片后进行外观检查时,如图不良现象为()。

    A.芯片倾斜
    B.框架变形
    C.焊料氧化
    D.框架镀银区域氧化

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