多项选择题
当在理想MIS结构上外加电压时,可能发生的状态有()
A.多子反型B.少子耗尽C.多子积累D.少子反型
多项选择题 理想MIS结构必须满足的条件有()
单项选择题 一个理想的MOS电容器,p型Si衬底的掺杂浓度为NA=1.5×1015cm-3。当氧化层厚度为0.1μm时,阈值电压为1.1V,则当氧化层厚度为0.2μm时的阈值电压为()V。
单项选择题 半导体表面达到强反型以后,随外加电压的增加,耗尽层宽度()。