多项选择题
倾斜度测量方法为测量芯片()到框架表面的高度的最大差值。
A.左上 B.左下 C.右上 D.右下
多项选择题 透视机作为FCDA的检验设备,其监控的项目有()。
多项选择题 蓝膜检验项目有()。
多项选择题 以下属于扁平直径测量的要素的有()。